仪器校准的周期要怎样进行确定？
确定仪器校准周期是一个涉及多种因素的过程，需要综合考虑仪器的特性、使用条件、风险评估等因素。以下是一些常见的确定仪器校准周期的方法：
一、基于仪器特性的方法
统计法：
根据测量仪器的结构、预期可靠性和稳定性的相似情况，对仪器进行分类。
统计在规定周期内超差或其他不合格的仪器数目，并计算不合格仪器与合格仪器总数之比。
根据不合格仪器的比例调整校准周期：若不合格仪器占比高，则缩短校准周期；若占比低，则可能延长校准周期。
小时时间法：
通过将测量仪器与计时指示器相连，以实际工作的小时数表示校准周期。
当计时指示器达到规定值时，将仪器送回校准。
这种方法的主要优点是校准费用与使用时间成正比，且可自动核对仪器的使用时间。
二、基于校准结果的方法
比较法：
将每台测量仪器按规定的校准周期进行校准，并将校准数据与前几次的校准数据进行比较。
如果连续几个周期的校准结果均在规定的允许范围内，则可以延长校准周期；如果超出允许范围，则应缩短校准周期。
图表法：
在每次校准中选择有代表性的同一校准点，将校准结果按时间描点，画成曲线。
根据曲线计算出仪器一个或几个校准周期内的有效漂移量，从而推算出最佳的校准周期。
三、基于风险评估的方法
反应调整法：
基于风险考虑，根据设备初始校准后、经一定时间间隔（初始校准周期）的后续校准结果来确定后续校准周期。
若校准结果位于最大允许误差的80%内，则后续的校准周期可延长。
期间核查法：
要求每次试验前或定期使用核查标准对重要参数及关键测量点进行核查。
当核查结果未超出最大允许误差，且设备稳定性较好时，不需要校准；当设备稳定性差，核查结果接近且有超出最大允许误差的趋势时，应及时采取措施并进行校准。
四、其他因素
在确定校准周期时，还需要考虑以下因素：
机构需求：如机构需要或声明的测量不确定度。
使用风险：如使用超出最大允许误差限值设备的风险。
纠正措施代价：如使用不满足要求的设备进行测量时，机构采取纠正措施的代价。
设备类型及部件：不同设备和部件的校准周期可能不同。
磨损和漂移趋势：设备的磨损和漂移情况会影响校准周期。
制造商建议：制造商通常会提供设备校准的周期建议。
使用程度和频次：设备的使用程度和频次越高，校准周期可能越短。
环境条件：如气候条件、振动、电离辐射等环境因素对设备性能的影响。
综上所述，确定仪器校准周期是一个综合考虑多种因素的过程。实验室应根据实际情况和需求，选择适合的方法来确定校准周期，并定期对校准周期进行评估和调整。
