一、引言

X射线衍射（X-ray Diffraction, XRD）是一种基于布拉格定律的非破坏性材料分析技术，广泛应用于金属、陶瓷、矿物、药物等物质的晶体结构表征。该技术能够提供晶格参数、相组成、结晶度等关键信息。本文将介绍其基本原理与典型应用。

二、核心技术原理

布拉格衍射公式

nλ = 2d sinθ，描述X射线在晶体平面族上的衍射条件。

粉末XRD图谱解析

通过PDF卡片库比对识别样品中存在的物相。

定量相分析

应用Rietveld精修法进行各相含量计算。

三、典型应用场景

新材料开发与性能优化

分析合金、纳米材料、催化剂的晶体结构变化。

药品多晶型研究

鉴别不同晶型对药效和溶解度的影响。

考古与文物材质鉴定

确定陶器、青铜器、壁画颜料的矿物组成。

四、未来发展方向

便携式XRD设备研发

适用于野外或现场快速分析需求。

联用技术发展（XRD-FTIR、XRD-TGA）

结合热分析、红外光谱等手段实现综合表征。